測量原理：不同的測量原理會影響精度。例如，磁性測厚法適用于導磁材料上的非導磁層厚度測量，通常精度較高。渦流測厚法則適用于導電金屬上的非導電層厚度測量，但精度相對較低。
儀器校準：涂層測厚儀在使用前需要進行校準，以確保測量結果的準確性。校準包括零點校準和多點校準，使用標準樣品進行比對校準。
測量范圍和分辨率：不同的涂層測厚儀有不同的測量范圍和分辨率。例如，某些涂層測厚儀的測量范圍為0-1300um，精度為±(3%+2um)，分辨率為0.1um。
表面狀態(tài)：基體金屬和涂層的表面粗糙度會影響測量精度。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，因此需要在不同位置上增加測量次數(shù)以克服這種偶然誤差。
環(huán)境因素：周圍環(huán)境的磁場、溫度和濕度等都可能影響測量結果。例如，強磁場會嚴重干擾磁性法測厚工作。
操作技術：操作者的技術也會影響測量精度。測量時，應保持探頭與試樣表面垂直，并施加恒定的壓力。
儀器維護：涂層測厚儀需要定期維護和校準，以保持其精度。例如，清潔探頭、更換電池、避免強烈震動或撞擊等。
標準和規(guī)范：遵循相關的國際和行業(yè)標準，如ISO 2178-1982、GB/T4956-2003等，可以確保測量結果的可比性和一致性。
儀器質(zhì)量：不同品牌和型號的涂層測厚儀質(zhì)量不同，選擇知名品牌和高質(zhì)量的儀器通常可以提供更準確的測量結果。
測量條件：測量時的條件，如基體金屬的磁性質(zhì)、電性質(zhì)、厚度，以及邊緣效應、曲率、試件的變形等都會影響測量值的精度。
