OTA測(cè)試暗箱的測(cè)試方法，主要包括無(wú)源測(cè)試和有源測(cè)試，這兩種測(cè)試方法各自具有一系列優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)。

無(wú)源測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)

1. 關(guān)注天線性能：無(wú)源測(cè)試主要關(guān)注無(wú)線通信設(shè)備天線的輻射參數(shù)，如增益、效率、方向圖等，這些參數(shù)對(duì)于天線的性能評(píng)估至關(guān)重要。
2. 考慮整機(jī)環(huán)境：無(wú)源測(cè)試在評(píng)估天線性能時(shí)，會(huì)考慮整機(jī)環(huán)境對(duì)天線性能的影響，如天線周圍器件、開(kāi)蓋和閉蓋等因素，這使得測(cè)試結(jié)果更加貼近實(shí)際使用情況。

無(wú)源測(cè)試的缺點(diǎn)

1. 數(shù)據(jù)不直觀：無(wú)源測(cè)試雖然能夠評(píng)估天線的輻射性能，但無(wú)法直接反映設(shè)備整機(jī)在無(wú)線通信環(huán)境中的實(shí)際性能，因此測(cè)試數(shù)據(jù)相對(duì)不夠直觀。
2. 無(wú)法全面評(píng)估：由于無(wú)源測(cè)試主要關(guān)注天線性能，而無(wú)法全面評(píng)估設(shè)備整機(jī)的輻射性能，因此在實(shí)際應(yīng)用中可能存在一定的局限性。

有源測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)

1. 全面評(píng)估整機(jī)性能：有源測(cè)試能夠更全面地模擬真實(shí)的無(wú)線通信環(huán)境，從而更準(zhǔn)確地評(píng)估設(shè)備整機(jī)在無(wú)線傳輸環(huán)境中的性能表現(xiàn)。
2. 數(shù)據(jù)直觀可靠：有源測(cè)試通過(guò)測(cè)量整機(jī)在三維空間各個(gè)方向的發(fā)射功率和接收靈敏度等關(guān)鍵性能指標(biāo)，能夠直接反映設(shè)備整機(jī)的輻射性能，測(cè)試數(shù)據(jù)更加直觀可靠。
3. 優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì)：有源測(cè)試可以幫助測(cè)試人員更好地理解用戶的使用習(xí)慣和行為，從而優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì)，提升用戶體驗(yàn)。

有源測(cè)試的缺點(diǎn)

1. 測(cè)試環(huán)境要求高：有源測(cè)試需要在特定的微波暗室中進(jìn)行，測(cè)試環(huán)境的要求較高，需要確保測(cè)試環(huán)境的穩(wěn)定性和可靠性。
2. 測(cè)試成本較高：由于有源測(cè)試需要高精度的測(cè)量設(shè)備和專業(yè)的測(cè)試人員，因此測(cè)試成本相對(duì)較高。

綜上所述，OTA測(cè)試暗箱的無(wú)源測(cè)試和有源測(cè)試方法各有優(yōu)缺點(diǎn)。無(wú)源測(cè)試主要關(guān)注天線性能，考慮整機(jī)環(huán)境對(duì)天線性能的影響，但數(shù)據(jù)不直觀且無(wú)法全面評(píng)估整機(jī)性能；而有源測(cè)試則能夠全面評(píng)估整機(jī)性能，數(shù)據(jù)直觀可靠，但測(cè)試環(huán)境要求高且測(cè)試成本較高。因此，在實(shí)際應(yīng)用中需要根據(jù)具體需求和測(cè)試條件選擇合適的測(cè)試方法。