TDR波形測(cè)試步驟如下：

1. 準(zhǔn)備測(cè)試設(shè)備：確保TDR設(shè)備（如Keysight E5071C網(wǎng)絡(luò)分析儀）支持TDR功能，并配備適當(dāng)?shù)男?zhǔn)套件。

   
   

2. 連接被測(cè)器件：使用同軸電纜將被測(cè)器件（如電纜、PCB走線）連接到TDR設(shè)備的測(cè)試端口，并根據(jù)需要端接處理。

   
   

3. 設(shè)置儀器參數(shù)：

   • 切換到時(shí)域模式（Time Domain）。
   • 選擇低通模式（LowPass）以適應(yīng)階躍響應(yīng)。
   • 設(shè)置時(shí)間窗口以覆蓋被測(cè)線路的長(zhǎng)度。
   • 設(shè)置激勵(lì)帶寬以提高時(shí)間分辨率。
     

4. 校準(zhǔn)儀器：執(zhí)行頻域校準(zhǔn)（如SOLT校準(zhǔn)）以消除系統(tǒng)誤差，并進(jìn)行時(shí)域校準(zhǔn)補(bǔ)償（可選）。

   
   

5. 進(jìn)行TDR測(cè)量：

   • 設(shè)置觸發(fā)方式（如內(nèi)部觸發(fā)）。
   • 測(cè)量S11反射系數(shù)并觀察時(shí)域波形。
   • 通過反射系數(shù)計(jì)算阻抗，并定位阻抗不連續(xù)點(diǎn)。

6. 分析結(jié)果：

   • 識(shí)別故障點(diǎn)：正反射峰表示阻抗升高（如開路），負(fù)反射峰表示阻抗降低（如短路）。
   • 測(cè)量距離：將時(shí)間轉(zhuǎn)換為距離，計(jì)算故障點(diǎn)位置。

7. 保存與導(dǎo)出數(shù)據(jù)：保存波形圖像，并導(dǎo)出時(shí)域數(shù)據(jù)以供進(jìn)一步分析。