外觀檢查:對儀器進(jìn)行外觀檢查,確保沒有明顯的損傷或缺陷。
自檢:利用儀器的自檢功能進(jìn)行初步檢查,確保所有組件正常工作。
環(huán)境條件設(shè)置:確保校準(zhǔn)環(huán)境符合制造商規(guī)定的溫度、濕度等條件。
參考晶體振蕩器校準(zhǔn):
射頻信號(hào)發(fā)生器校準(zhǔn):
調(diào)制質(zhì)量校準(zhǔn):對于數(shù)字調(diào)制信號(hào),校準(zhǔn)誤差矢量幅度(EVM)等調(diào)制質(zhì)量參數(shù)。
占用帶寬和鄰道功率比校準(zhǔn):校準(zhǔn)信號(hào)的占用帶寬和鄰道功率比,確保信號(hào)滿足規(guī)范要求。
頻譜發(fā)射模板校準(zhǔn):校準(zhǔn)信號(hào)的頻譜發(fā)射模板,確保信號(hào)在頻域內(nèi)的分布符合標(biāo)準(zhǔn)。
射頻功率測量校準(zhǔn):校準(zhǔn)功率測量的準(zhǔn)確性,確保功率讀數(shù)準(zhǔn)確。
輸入輸出端口電壓駐波比校準(zhǔn):校準(zhǔn)端口的電壓駐波比,確保信號(hào)傳輸?shù)耐暾浴?/p>
使用標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn):使用已知性能的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備(如頻率計(jì)數(shù)器、功率計(jì)等)進(jìn)行校準(zhǔn)。
數(shù)據(jù)記錄和分析:記錄校準(zhǔn)過程中的所有數(shù)據(jù),并進(jìn)行不確定度分析。
校準(zhǔn)結(jié)果驗(yàn)證:通過對比校準(zhǔn)前后的測量結(jié)果,驗(yàn)證校準(zhǔn)的有效性。
校準(zhǔn)證書和記錄:生成校準(zhǔn)證書和記錄,記錄校準(zhǔn)的詳細(xì)信息和結(jié)果。
定期復(fù)校:根據(jù)制造商的建議和使用情況,制定并遵循定期復(fù)校的時(shí)間間隔。