5G手機(jī)無(wú)線綜測(cè)儀在測(cè)試過(guò)程中面臨的技術(shù)挑戰(zhàn)主要包括復(fù)雜的測(cè)試組件、波束成形特性的驗(yàn)證、更敏感的信號(hào)失真、詳盡的測(cè)試用例以及更高的測(cè)試成本和更長(zhǎng)的上市時(shí)間。

5G手機(jī)無(wú)線綜測(cè)儀的技術(shù)挑戰(zhàn)

• 復(fù)雜的測(cè)試組件：5G測(cè)試環(huán)境的復(fù)雜性大幅增加，特別是在毫米波頻率下工作的設(shè)備，需要更多的天線和頻段，以及射頻切換開關(guān)、可編程控制器等，以確保各組件之間彼此兼容并且整個(gè)系統(tǒng)都經(jīng)過(guò)良好校準(zhǔn)。
• 波束成形特性的驗(yàn)證：波束成形特性旨在找到每個(gè)天線元件的合適相角和增益，以便控制無(wú)線電能量能夠指向特定設(shè)計(jì)所需的方向。在毫米波頻率下，波束對(duì)天線封裝、最終產(chǎn)品外殼和多信道變化非常敏感，因此每一個(gè)天線陣列和極化方向的波束特性和驗(yàn)證都十分重要。
• 更敏感的信號(hào)失真：5G收發(fā)機(jī)電路由多個(gè)元器件構(gòu)成，任何制造瑕疵或突變頻率響應(yīng)都可能導(dǎo)致信號(hào)質(zhì)量降低，尤其是在高頻、高調(diào)制方案或大天線陣列尺寸的情況下。
• 詳盡的測(cè)試用例：5G提供了豐富的物理層功能，支持多個(gè)頻段、帶寬、子載波間隔、調(diào)制方式等，這使得必須執(zhí)行更加詳盡的測(cè)試用例以確保設(shè)備得到全面的質(zhì)量檢測(cè)，隨之而來(lái)的是總體測(cè)試時(shí)間的增加。
• 更高的測(cè)試成本和更長(zhǎng)的上市時(shí)間：上述所有挑戰(zhàn)都可能增加測(cè)試成本并延長(zhǎng)上市時(shí)間，從而顯著地降低生產(chǎn)效率和總體成本競(jìng)爭(zhēng)力。

應(yīng)對(duì)技術(shù)挑戰(zhàn)的解決方案

• 選擇合適的OTA測(cè)試箱：直接遠(yuǎn)場(chǎng) (DFF) 和緊縮場(chǎng) (CATR) 測(cè)試方法的選擇主要取決于天線模塊的尺寸及其在硬件中的位置，確保設(shè)備擺放的位置滿足遠(yuǎn)場(chǎng)的需求。
• 測(cè)量系統(tǒng)的線性度設(shè)置：測(cè)試設(shè)備必須具備所需頻率和調(diào)制帶寬范圍內(nèi)的信號(hào)生成及分析的功能集成，并且在幅度相位平坦度、重復(fù)性、輸入/輸出功率精度以及EVM提供良好的線性度。
• 路徑損耗校準(zhǔn)：通過(guò)確定整個(gè)射頻收發(fā)鏈路綜合損耗/增益來(lái)確保測(cè)量精度和可重復(fù)性的過(guò)程，考慮到毫米波頻率特別容易影響到OTA路徑損耗，因此校準(zhǔn)過(guò)程將有助于確保發(fā)射功率和靈敏度結(jié)果與整個(gè)系統(tǒng)吻合且不受其影響。
• 簡(jiǎn)化測(cè)試組件：選擇測(cè)試設(shè)備時(shí)，目標(biāo)是實(shí)現(xiàn)測(cè)量相關(guān)性、最大程度地減少開發(fā)工作量和縮短上市時(shí)間，保持研發(fā)到生產(chǎn)過(guò)程的靈活性從而快速實(shí)現(xiàn)測(cè)試結(jié)果的關(guān)聯(lián)性、更快的調(diào)試并縮短學(xué)習(xí)曲線。
• 優(yōu)化測(cè)試用例：基于待測(cè)物數(shù)量、銷售區(qū)域的頻段需求以及前期研發(fā)階段的大量測(cè)試數(shù)據(jù)來(lái)設(shè)計(jì)測(cè)試用例，是一種非常好的方法，從制造角度來(lái)看，測(cè)試方案的優(yōu)化對(duì)縮短產(chǎn)品上市時(shí)間和提高整體生產(chǎn)效率非常關(guān)鍵。

通過(guò)上述解決方案，可以有效地應(yīng)對(duì)5G手機(jī)無(wú)線綜測(cè)儀在測(cè)試過(guò)程中遇到的技術(shù)挑戰(zhàn)，確保5G手機(jī)的性能、一致性以及網(wǎng)絡(luò)的兼容性。